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赛多利斯电子天平自校程序对检定结果的影响

[导读]为了检验自校程序重要性,可进行比对实验。对量程为220g,d=1mg 的高精度天平实施自校前和自校后的检定,最终测得自校前的偏载误差为5mg,重复性误差为12mg, 示值误差为11mg,这时检定结果不合格;在对天平实施自校以后,又进行了检定测试,得知偏载误差

为了检验自校程序重要性,可进行比对实验。对量程为220g,d=1mg 的高精度天平实施自校前和自校后的检定,最终测得自校前的偏载误差为5mg,重复性误差为12mg, 示值误差为11mg,这时检定结果不合格;在对天平实施自校以后,又进行了检定测试,得知偏载误差为2mg,然当重复性误差载荷在200g 时误差为5mg,示值误差则为3mg,这时检定结果合格。由此可知,天平是否进行自校对检定结果有直接影响,所以检定前一定要对天平实施自校。

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